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光学仪器及设备
日立双束聚焦离子束系统NX5000
日立大型扫描电镜SU3900
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日立热场发射扫描电镜SU7000
新型台式扫描电镜TM4000
离子研磨系统ArBlade5000
日立120kV透射电镜HT7800
场发射扫描电子显微镜Regulus8200
超高分辨场发射扫描电子显微镜Regulus8100
日立高新扫描电子显微镜FlexSEM 1000
光谱检测分析仪
多变量分析软件3D SpectAlyze
紫外可见近红外分光光度计UH5700
日立荧光分布成像系统EEM View
日立ZA3700石墨炉原子吸收分光光度计
日立ZA3300火焰原子吸收分光光度计
日立F-7100荧光分光光度计
日立UH4150紫外可见近红外分光光度计
日立UH5300双光束紫外可见分光光度计
日立ZA3000系列原子吸收分光光度计
日立F-7000荧光分光光度计
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日立色谱数据系统ChromAssist Data Station
日立超高效液相色谱仪ChromasterUltra Rs
日立Primaide高效液相色谱仪
日立Chromaster高效液相色谱仪
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核酸提取-荧光定量PCR一体机geneLEAD VIII
紧凑型毛细管电泳DNA测序仪
质谱检测分析仪
Chromaster 5610质谱检测器
测量/计量仪器
日立白光干涉显微镜VS1800
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产品描述
一、荧光分布成像系统(EEM View)简介
作为荧光分光光度计的配件系统,这是全球首创将相机与荧光分光光度计的**结合,融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。
新型荧光分布成像系统可安装到日立F-7000/71000荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球漫反射后均匀照射到样品,利用荧光光度计标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱,积分球下方的CMOS相机可获得样品图像,并利用独特的AI光谱图像处理算法,可以同时得到反射和荧光成分图像。
二、 荧光分布成像系统特点:
1. 可以全面测定样品的光谱数据(反射光、荧光特性)
在不同光源条件下(白光和单色光)拍摄样品图像,(区域:Φ20mm、空间分辨率:0.1 mm左右、波长范围:360-700nm),同时利用先进的光谱算法,分别显示荧光图像和反射图像, 根据图像可获得不同区域的光谱信息(荧光光谱、反射光谱)
荧光分布成像系统软件分析(EEM View Analysis)界面(样品:LED电路板)
2. 样品安装简单,适用于各种样品测试
样品只需摆放到积分球上,安装十分简单!
丰富的样品支架
支持精确测量的校正工具
荧光分布成像系统是一种全新的技术,将它配置到荧光分光光度计中,改变了常规荧光光度计只能获得样品表面区域平均化信息的现状,可以查看样品图像任意区域的光谱信息,十分适合涂料、材料、油墨、LED、化工等领域。